1. Advanced formal verification
المؤلف: / edited by Rolf Drechsler
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Electronic circuits- Testing,Decision trees
رده :
E-BOOK
2. Advanced formal verification
المؤلف: / edited by Rolf Drechsler
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع: Electronic circuits- Testing,Decision trees
رده :
TK7867
.
A38
2004
3. Advanced formal verification
المؤلف: / edited by Rolf Drechsler
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Electronic circuits -- Testing,Decision trees
رده :
TK
7867
.
A38
2004
4. Advanced formal verification
المؤلف: / edited by Rolf Drechsler
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع: Electronic circuits- Testing,Decision trees
رده :
TK7867
.
A38
2004
5. Advances in electronic testing :
المؤلف: edited by Dimitris Gizopoulos
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic circuits-- Testing
6. Advances in electronic testing
المؤلف: / edited by Dimitris Gizopoulos
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Electronic circuits -- Testing
رده :
TK
7867
.
A385
2006
7. Algorithms for synthesis and testing of asynchronous circuits
المؤلف: Lavagno, Luciano
المکتبة: (طهران)
موضوع: Electronic digital computers - Circuits - Testing , Electronic digital computers - Circuits - Mathematical models, Asynchronous circuits - Testing, Asynchronous circuits - Mathematical models
رده :
TK
7888
.
4
.
L38
8. Analog and mixed-signal boundary-scan
المؤلف: / Adam Osseiran, editor
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Printed circuits--Testing--Standards,Boundary scan testing.,Mixed signal circuits--Testing,Electronic digital computers--Circuits--Design and construction,Boundary scan testing.,Mixed signal circuits--Testing,Printed circuits--Testing--Standards,Electronic digital computers--Circuits--Design and construction
رده :
TK
,
7868
,.
P7
,
A53
,
1999
9. Analog and mixed-signal boundary-scan :
المؤلف: / edited by Adam Osseiran
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Printed circuits , Testing , Standards,Boundary scan testing,Mixed signal circuits , Testing,Electronic digital computers , Circuits , Design and construction
رده :
E-BOOK
10. Analog test signal generation using periodic [sigma delta]-encoded data streams
المؤلف: / by Benoit Dufort and Gordon W. Roberts
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Signal generators,Electronic circuits , Testing,Integrated circuits , Testing,Coding theory,Signal processing , Digital techniques,Analog-to-digital converters
رده :
E-BOOK
11. Applied formal verification
المؤلف: / Douglas L. Perry, Harry D. Foster
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits -- Verification,Electronic circuits -- Testing
رده :
TK
7874
.
58
.
P47
2005
12. Complete guide to electronic test equipment and troubles hooting techniques
المؤلف: John Douglas- Young
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Electronic circuits - Testing - Equipment and supplies
رده :
TK
,
7867
,.
D6
,
1989
13. Demystifying mixed-signal test methods /
المؤلف: Mark Baker.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Automatic test equipment.,Electronic apparatus and appliances-- Testing.,Mixed signal circuits.,Signal generators.,Automatic test equipment.,Electronic apparatus and appliances-- Testing.,Mixed signal circuits.,Signal generators.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- General.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- Integrated.
رده :
TK7895
.
A8
B34
2003eb
14. Designing, testing, and diagnostics- join them
المؤلف: International Test conference )3991: Baltimore, Md.(
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Testing- congresses,، Electronic digital computers- Circuits- Testing-Congresses
رده :
TK
7874
.
I474
1993
15. Digital hardware testing. transistor-level fault modeling and testing
المؤلف: Rajsuman, Rochit., Rochit Rajsuman
المکتبة: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع: ، Electronic digital computers- Circuits- Testing- Data processing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Electric fault location
رده :
TK
7888
.
4
.
R35
16. Electronic fault diagnosis
المؤلف: George Loveday
المکتبة: کتابخانه مرکزی دانشگاه یاسوج (محمد بهمن بیگی) (کهکیلویة و بویرأحمد)
موضوع: Electronic apparatus and appliances- Maintenance and repair,Electronic apparatus and appliances- Testing,Electronic circuits- Testing,Electric fault location
رده :
621
,.
381028
,
L89
,
1977
17. Electronic fault diagnosis
پدیدآورنده : Loveday, Geroge
موضوع : ، Electronic apparatus and appliances-- Maintenance and repair,، Electronic apparatus and appliances-- Testing,، Electronic circuits-- Testing
۳ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
18. Electronic fault diagnosis
المؤلف: LOVEDAY,GEORGE
المکتبة: (طهران)
موضوع: ELECTRONIC APPARATUS & APPLIANCES , ELECTRONIC CIRCUITS-TESTING
رده :
TK
7870
.
L65
1988
19. Electronic testing and fault diagnosis
المؤلف: / G. C. Loveday
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Electronic equipment,Circuits testing
رده :
TK
7878
.
4
.
L6
20. Electronic testing and fault diagnosis
المؤلف:
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع: Electronic apparatus and appliances Testing.,Electronic equipment Circuits Testing
رده :
TK7870
.
L65
1991
